仪器生产商:
Bruker Nano Inc
资产编号:
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资产负责人:
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购置日期:
2016-10-17
仪器产地:
美国
仪器供应商:
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购买经办人:
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主要配件:
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主要参数:
1.XY 扫描范围 90μm,Z范围14μm,样品尺寸≤150mm; 2.Nanoscope V控制器,具备8通道数据采集能力; 3.轻敲、接触和智能扫描三种形貌成像模式,具有摩擦力和相位图
分类描述:
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仪器介绍:
原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固 体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和微悬臂之间的极微弱的原子间相互作 用力来研究物质的表面结构及性质。微悬臂针尖与样品表面原子间的相互作用力使微悬臂发生 变形,通过检测微悬臂的形变获得纳米级分辨率的表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。主要 用于样品表面形貌表征、材料力学及电学特性表征
工作时间:
09:00-12:00;14:00-18:00
最小可预约时间段:
0.5 小时
最大可预约时间段:
168 小时
日历最小单位:
0.5 小时
最近提前预约时间:
未授权用户: 24小时;
普通资格用户: 24小时;
资深资格用户: 24小时
最远提前预约时间:
未授权:
720 小时 0 点;
普通:
720 小时 0 点;
资深:
720 小时 0 点
预约保护时间:
15 分钟
失约保护时间:
15 分钟
断电延时时间:
30 秒
最短重上电时间:
5 秒
使用超时提醒:
120 秒
最大有效预约次数:
5 次/天
无代价撤销预约时间:
1440 分钟
用户资格 |
工作时间 |
非工作时间 |
未授权资格 |
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普通资格 |
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资深资格 |
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