仪器介绍
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基本信息
生产厂商
日本电子株式会社(JEOL)
资产编号
资产负责人
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购置日期
2002-02-04
仪器价格
245.49 万元
仪器产地
日本
仪器供应商
购买经办人
主要配件
主要参数
分辨率 1.0nm @ 15kV,能谱分辨率133eV(Mn Ka),分析元素B(5)-- U(92)
仪器介绍
本仪器具有高的分辨率,放大倍率几十倍到几十万倍连续可调,可观察物体二次电子 像、背散射电子像,同时可进行X射线能谱分析: 1. 固体物质表面形貌观察可广泛应用于生物、物理、化学、纳米材料、金属材料、高分子材料等方面的表面形貌观察、粒度测量、集成电路质量检验、断口分析、失效分析等。 2. 背散射电子像(BSE)背散射电子可显示出试样微区原子序数或化学成分的差异,即试样的成分衬度。根据背散射电子像的亮暗程度,可判别出相应区域的原子序数的相对大小,由此可对陶瓷、金属或合金等材料的显微结构进行分析。
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