基本信息

生产厂商 Bruker Nano Inc
资产编号
资产负责人 ----
购置日期2016-10-17
仪器价格154.00 万元
仪器产地美国
仪器供应商
购买经办人
主要配件
主要参数1.XY 扫描范围 90μm，Z范围14μm，样品尺寸≤150mm； 2.Nanoscope V控制器，具备8通道数据采集能力； 3.轻敲、接触和智能扫描三种形貌成像模式，具有摩擦力和相位图

仪器介绍

原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和微悬臂之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。微悬臂针尖与样品表面原子间的相互作用力使微悬臂发生变形，通过检测微悬臂的形变获得纳米级分辨率的表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。主要用于样品表面形貌表征、材料力学及电学特性表征